650V高压双极-硅上CMOS-DMOS集成电路的可靠性问题 上传者：auditorium23690 2023-06-29 07:36:47上传 PDF文件 310.87KB 热度 8次 在650V高压双极-硅上CMOS-DMOS集成电路中的可靠性问题包括温度应力、漏电流和尺寸限制对可靠性的影响。为了提高可靠性，需要采取有效的技术措施，如温度控制、合适的封装材料和工艺。另外，通过优化设计和工艺参数，减少漏电流和改善电子器件的性能和可靠性。当前研究方向包括材料的新型封装技术、优化结构设计和工艺参数的调整等。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论 auditorium23690 资源：2 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
