基础电子中的集成电路可靠性介绍

可靠性的定义是系统或元器件在规定的条件下和规定的时间内,完成规定功能的能力。从集成电路的诞生开始,可靠性的研究测试就成为IC设计、制程研究开发和产品生产中的一个重要部分。 Jack Kilby 在1958年发明了集成电路,第一块商用单片集成电路在1961年诞生;1962年9月26日,第一届集成电路方面的专业国际会议在美国芝加哥召开。当时会议名称为“电子学失效物理年会”;1967年,会议名称改为“可靠性物理年会”;1974年又改为“国际可靠性物会议”(IRPS) 并延续至今。IRPS已经发展成集成电路行业的一个盛会,而可靠性也成为横跨学校研究所及半导体产业的重要研究领域。 集成电路可