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基于边界扫描技术的测试系统设计

上传者: 2022-08-29 14:08:41上传 RAR文件 216.94 KB 热度 13次

随着超大规模集成电路(VLSI)、表面安装器件(SMD)、多层印制电路板(MPCB)等技术的发展,电路板的常规测试方式面临挑战.介绍了边界扫描技术及边界扫描测试的基本原理,提出了一种基于边界扫描技术的测试系统方案及其实现,并着重介绍了JTAG总线控制器的设计.

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