电子测量中的边界扫描与处理器仿真测试

当前,PCB是越来越复杂,不言而喻,想要获得满意的测试覆盖范围也更困难了。而且每种测试方法都有其固有的局限性。于是,测试工程师们不得不另辟蹊径,将几种技术组合起来以达到他们所要求的测试覆盖范围。这正是IEEE 1149.1边界扫描(俗称JTAG)和微处理器仿真测试所追求的。边界扫描和处理器基仿真测试有各自的应用领域,每种技术都能达到某种程度的测试覆盖范围。然而将两种技术无缝地组合在一起,就有可能达到更高的总测试覆盖范围,是任何一种单独技术无法比拟的。若将传统的JTAG结构性测试和处理器基功能仿真测试组合起来,提高了测试覆盖范围,从而可以简化测试,简化程度取决于所采用的其它测试方法,如电路内测试