一文带你了解高集成电路测试中的边界扫描技术.pdf

边界扫描(Boundary scan )是一项测试技术,是在传统的在线测试不在适应大规模,高集成电路测试的情况下而提出的,就是在IC设计的过程中在IC的内部逻辑和每个器件引脚间放置移位寄存器(shift register).每个移位寄存器叫做一个CELL。这些CELL准许你去控制和观察每个输入/输出引脚的状态。当这些CELL连在一起就形成了一个数据寄存器链(data register chain),我门叫它边界寄存器(boundaryregister)。除了上面的移位寄存器外,在IC上还集成测试访问端口控制器 (TAP controller),指令寄存器(Instruction registe