用于半导体可靠性的短脉冲强制性测试.pdf 上传者：sjzbxyz 2020-08-21 15:54:33上传 PDF文件 381KB 热度 40次 开发IC让它能工作是一回事;而让它耐用就是另一回事了。随着新技术出现新的可靠性问题,后者变得越来越难。在封装之前,在晶圆上 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
