碲锌镉单晶体的正电子寿命研究 上传者：jhy49066 2020-08-20 15:06:09上传 PDF文件 266.89KB 热度 50次 碲锌镉单晶体的正电子寿命研究,唐世红,赵北君,用正电子湮没技术(PAT)研究了原料富Cd的改进布里奇曼法生长的碲锌镉单晶样品退火前后的缺陷。刚生长的样品缺陷寿命值较高,其内� 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
