论文研究 58纳米闪存产品后段缺陷降低研究 .pdf 上传者：Xieminsen 2020-07-21 18:57:29上传 PDF文件 1.06MB 热度 21次 58纳米闪存产品后段缺陷降低研究，郭贤权，黄其煜，闪存产品拥有高可靠性，高速擦写，低成本等优势，可广泛运用于通信，医疗，汽车和家电等领域。本产品因其工艺需要，其后段铜线最 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
