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低温生长的Ge/Si超晶格界面结构的同步辐射研究

上传者: 2020-07-17 20:25:01上传 PDF文件 623.97KB 热度 14次
低温生长的Ge/Si超晶格界面结构的同步辐射研究,吴小山,蒋树声,本文利用X射线方法研究了低温生长的Ge/Si超晶格的界面结构与生长Ge亚层厚度的关系。X射线近边吸收限精细结构研究表明,Ge与Si在Ge/Si界
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