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电路理论实验:电子元件伏安特性测定与基尔霍夫定律验证

上传者: 2023-11-19 11:02:20上传 PDF文件 3.4MB 热度 10次

本文探讨了大连海事大学(DLMU)电路理论实验的两个重要部分:一、电子元件伏安特性的测定;二、基尔霍夫定律的验证和电位的测定。通过详细的实验过程和数据分析,帮助学生深入理解电路理论的实际应用。在电子元件伏安特性测定中,我们通过测量电子元件在不同电压下的电流,绘制伏安特性曲线,分析元件的电阻、导电性等特性。而在基尔霍夫定律验证和电位测定实验中,我们通过搭建不同电路,验证基尔霍夫定律,并测定电路中各点的电位。这些实验对学生理解电路中电子元件的行为和电流、电压分布等方面具有重要意义。

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