silvaco实验仿真：MOSFET正反向导通和阈值电压的仿真曲线及氧化层厚度、p区掺杂浓度的影响 上传者：jetlag_211 2023-07-02 16:10:40上传 DOCX文件 592.52KB 热度 11次 silvaco实验仿真研究了MOSFET器件的正向导通、反向导通以及阈值电压的仿真曲线。在此基础上，探讨了不同氧化层厚度和p区掺杂浓度对器件性能的影响。内容中包括相关源码以及对特性仿真曲线的详细分析。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论 jetlag_211 资源：4 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
