STM32微控制器随机数生成经NIST统计测试集验证

本文通过使用NIST统计测试集对STM32微控制器的随机数生成能力进行了全面验证。在测试过程中，我们使用了包括均匀分布测试、连续位测试、矩阵积测试和进位测试等多个测试项目，然后对测试结果进行了详细分析和总结。实验结果显示，STM32微控制器所生成的随机数符合NIST统计测试集的要求，具备良好的随机性和安全性。在实际应用中，可以放心使用STM32微控制器来生成高质量的随机数，以满足各类应用的需求。