SoC设计中的DFT和BIST策略 上传者：Лезгинка 2023-05-05 03:54:09上传 DOC文件 147.5KB 热度 9次 SoC（系统级芯片）设计中，DFT（数字电路测试）和BIST（内置自测试）是常见的策略。通过使用这些策略，设计人员可以在设计过程中提高测试效率和可靠性，并减少开发成本。本篇文章讨论了在SoC设计中使用DFT和BIST的优点、缺点和实现方法，并提供了相关的实例和参考资料。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论 Лезгинка 资源：158 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
