基于单片机的微型步进光学测试平台系统研究

在许多光电系统或者仪器中,需要对二维平面内的光场特征参数分布进行测量,如国防中的军事目标的光学特性研究,就需要对平面内的散射光场分布进行测量。传统的仪器手工逐点测量,没有很高的位置分辨能力。本项目的研究目的就是设计一个能够精确自动控制的微型步进光学测试平台,来解决这一问题[1]。 本系统的核心在于利用单片机AT89C51实现步进电机的精确自动控制,实现对平面内待检测点的精确定位;整个系统包括接收光学系统设计,硬件控制电路设计,软件驱动程序和数据处理及显示程序设计。