面源黑体红外辐射面均匀性测量研究

面源黑体在红外光学系统及测试仪器的研制过程中有着广泛的应用。面源黑体红外辐射的均匀性直接影响整个测试和校准系统的可靠性和准确性。针对面源黑体红外辐射面均匀性的测试需求,提出了一种基于高分辨率、高精度红外辐射测温和实时校准的面源黑体红外辐射均匀性测量方法。实验证明该方法可以满足测试精度的需求,能够为面源黑体在均匀性校正中应用提供参考依据。