一文让你检测IC产品参数值发生偏移

随着时间的推移,半导体材料的掺杂度以及对内部裸片产生的物理应力都会发生变化,这会导致产品的参数值发生偏移。这些偏移可在新产品质量过程中,通过测量生命周期测试过程中(在高温炉中执行的加速老化过程)的参数偏移进行量化。 125C 下 1000hrs 或 150C 下 300hrs 的典型生命周期测试持续时间可在室温下确保至少 10 年的(不计算静态自身发热条件)。持续时间通过 Arrhenius 公式计算,这是一个简单而非常的计算公式,用于描述给定过程的反应速度常数对温度的依赖性: 过程速率 (PR) = Ae-(Ea/kT) Arrhenius 公式 这就引出了加速系数 (AF