用双介质法测定金属薄膜的厚度和光学常数 上传者：tyfyyn 2021-02-25 08:51:27上传 PDF文件 4.08MB 热度 31次 用角度扫描衰减全反射方法(ATR),激励金属和两种介质界面处的表面等离子激元波(SPW)通过这些表面等离子激元波和介质折射率的关系同时确定了金属薄膜的厚度和光学常数.实验结果和理论分析相符. 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
