基于双CCD的单曝光倒频谱相移同轴数字全息技术

受目前电荷耦合器件(CCD)性能的限制,在数字全息技术中通常采用同轴数字全息记录光路来充分利用CCD的采样空间,以提高数字全息的测量性能,然而同轴数字全息存在再现像与直透光场及其共轭像重叠的问题。为实现同轴数字全息的实时高分辨记录测量,在单步相移倒频谱技术的基础上提出了基于双CCD的单曝光倒频谱相移同轴数字全息技术,并给出了该技术中两个CCD镜像重叠位置调节标定的方法和实现两个CCD并行π/2相移的光路结构方案这两个关键技术。实验结果表明基于双CCD的单曝光倒频谱相移同轴数字全息技术有效解决了再现像与直透光场及其共轭像分离的问题,初步实现了同轴数字全息的实时记录和再现。