基于后焦面法的光阱中微球亚纳米级位移测量方法

为了实现微米级物体快速、高精度位置测量,弥补传统利用CCD 成像直接探测法的不足,采用后焦面法实现了光阱环境中微粒小球的位置探测。阐述了后焦面法位置探测的基本原理和实现方法,并搭建实验光路,实现了模拟光阱环境中微米小球位置的快速精确测量。理论分析及实验结果表明:这种方法位置探测分辨率可达80 nm、响应频率达到800 Hz,将其用于光阱环境中微米小球的位置探测是切实可行的。