基于半导体光放大器自相位调制和交叉相位调制的色散监测技术

对于半导体光放大器(SOA),当输入光功率和SOA的饱和功率可比拟时,SOA表现出较强的非线性效应,包括自相位调制(SPM)和交叉相位调制(XPM)。SPM会使光谱在信号中心频率附近展宽,而XPM会在探测光附近产生新频率的光。链路中不同色散值会使输入光的峰值功率产生变化,从而在SOA中会产生不同程度的SPM和XPM效应。通过合理地设置滤波器的中心频率和带宽,同时测量由SPM和XPM效应产生的频谱变化结果,来达到对链路中残余色散(CD)进行监测的目的,色散监测范围可达±30 ps/nm以上。该技术可以实现对链路中残余色度色散和偏振模色散(PMD)的监测。