相干布居囚禁原子钟光频移性能优化

光频移是影响相干布居囚禁(CPT)原子钟输出频率质量的重要因素之一,优化CPT原子钟光频移特性往往需要很长的调试时间。采用现场可编程门阵列,实现了一种数字正交解调方法,能够方便地优化原子钟与光频移相关工作参数,大大缩短了优化原子钟光频移特性所需时间,减少了调试工作量。该方法应用于原子钟生产可节省产品出厂调试周期和工作量。