以激光微探针法分析玻璃缺陷

最近出现一种新的微区分析工具——作为发射光谱仪器附件的激光微探针。这一附件可以从抛光的截面、抛光的薄片截面,甚至断裂面或粗糙表面上蒸发少量物料而取样。因此这一装置可应用于需要微区分析的若干科学领域。本文着重研讨玻璃缺陷,并说明图1所示仪器如何用于岩相分析。本文讨论:(1)激光微探针的原理与操作。(2)分析检定数种玻璃缺陷,其中包括两个结石及一个结瘤。此仪器也有助于检定着色沾污及乳化所引起的结石,但本文并未列入。