宽波段铁电液晶偏振态分析器的优化设计

铁电液晶偏振态分析器(PSA)是宽波段偏振成像的核心组件,其抑制噪声的能力对偏振测量结果具有重要影响,因此解决宽波段铁电液晶PSA优化设计问题具有重要意义。根据宽波段偏振成像测量的基本原理推导出铁电液晶PSA的斯托克斯测量矩阵,采用遗传算法和条件数 (CN)、同样加权方差(EWV) 评价准则对偏振器件的方位角参数进行优化设计,得到铁电液晶PSA的最佳器件组合方式和方位角参数。最后,根据优化设计结果搭建多波段实验装置,对3D眼镜和偏振片进行成像测量实验。实验结果表明利用所设计方法实现的偏振测量装置能够有效测量出目标的偏振特性。