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CAPIS技术探测波前畸变的实验研究

上传者: 2021-02-07 13:04:41上传 PDF文件 12.19MB 热度 5次
计算光场自适应光学成像(CAPIS)技术能够同时记录信号的位置和方向,从光场信息中可得到畸变波前斜率,从而重构波前。研究了CAPIS技术探测光学波前畸变,给出了数值计算模型并进行了仿真分析。结果表明,CAPIS技术可准确地探测低阶像差波前,波前残差方均根值小于0.1
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