IPC/JEDEC J STD 035:非密封电子元件的声学显微镜法 英文完整版(17页)

现行的英文版IPC/JEDEC-J-STD-035: 非密封电子元件的声学显微镜法(Acoustic Microscopy for Non-Hermetic Encapsulated Electronic Components),本测试方法规定了对非封闭封装的电子元件进行声学显微镜检查的程序。它为用户提供了一个声学显微镜工艺流程,用于检测塑料封装中的非破坏性缺陷,同时实现可重复性。由IPC和JEDEC开发。