EDA/PLD中的介质损耗因数的自动数字测量系统

摘 要: 介绍了以80C196为核心的介质损耗因数自动测量系统,使用了Flash Memory和高速A/D等技术,克服了一般测量系统在反接测量时的绝缘和干扰等问题,达到了较高的测量精度。关键词: 介质损耗因数tgδ 闪速存储体 高速A/D 密封电池 介质损耗因数tgδ是反映高电压电气设备绝缘性能的一项重要指标。通过测量tgδ可以反映出绝缘的一系列缺陷,如绝缘受潮、劣化变质或绝缘中有气体发生放电等。因此,在电力设备运行过程中,要定期对反映设备绝缘的介质损耗因数进行测量,若达不到一定标准,将不能继续使用该电力设备。长期以来,tgδ的测量是通过QS-1电桥实现的。但它的测试程序复杂,操作工作量