硅分析(Virtuoso Silicon Analysis)

对于0.18微米及更小线宽的模拟/混合信号设计来说,高精确寄生参数提取、模拟IR-drop分析和功率网格电迁分析已成为电路设计和全芯片电气验证的关键。新推出的Virtuoso AMS 硅分析(Silicon Analysis)产品将所有这些功能与设计规则检验(DRC)和版图与原理图之间检查(LVS)有机地结合起来。这种新的Virtuoso HF AMS 硅分析(Silicon Analysis)产品增加了电感提取、电迁移和高频(>1GHz)模拟/混合信号设计的场分析器。借助这些功能,设计队伍便能迅速对进行硅精确分析,从而避免耗资巨大的计划外返工。