The Test Flow of IC Development 上传者：qq_68054 2020-12-12 23:51:30上传 PDF文件 11.86KB 热度 30次 Design---> Layout --> Process --> Wafer Accept Test --> Circuit Probe --> Package --> Final Test 1 --> Burn-In --> Final Test 2 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
