EDA/PLD中的面向高成品率设计的EDA技术

成品率下滑已成为当今纳米集成电路设计中面临的最大挑战之一。如何在研发高性能IC 同时保证较高的成品率已成为近年来学术界及工业界关注的热点问题。 一 芯片成品率 在电子产品生产中,成品率问题由于与生产成本以及企业利润直接相关,一直以来受到业界的广泛关注。如果产品的成品率过低,将会使生产成本陡然上升,不仅造成企业利润减少,而且还会降低产品的市场竞争力,甚至造成整个产品项目的失败。 成品率问题的重要性同样也体现在作为电子产品及IT 产业的支撑产业——集成电路(IC)的设计和生产中。而且,在 IC 的设计和生产中成品率问题显得更加突出,这主要与IC 设计及制造的特点有关。首先,集成电路生产工艺十