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板级电路内建自测试建模技术研究

上传者: 2020-11-06 07:24:19上传 PDF文件 214.7KB 热度 11次
摘 要: 板级电路的内建自测试技术使电路具有自测试能力,减少测试周期和测试费用,但是这种电路结构设计与故障诊断难度较大,本文提出了基于多信号模型的板级电路可测性建模方法,并将其应用于板级电路高速数据采集器中。结果证明,大大提高了数据采集器的故障检测率和故障隔离率,通过电路本身的控制器还可以实现电路的自测试,本论文的研究成果对各种电子电路的可测性设计具有实际的指导意义。 1. 引 言: 在工业现场、国防军事、航空航天等领域需要利用电路自身资源进行快速的故障诊断,即要求电路具有自测试功能。为了使复杂的电路具有自测试功能必须进行专门的可测性分析与设计。而通过建立故障诊断模型来研究复杂系统
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