EDA/PLD中的基于FPGA的高性能DAC芯片测试与研究

D/A 转换器作为连接数字系统与模拟系统的桥梁,不仅要求快速、灵敏,而且线性误差、信噪比和增益误差等也要满足系统的要求[1]。因此,研究DAC 芯片的测试方法,对高速、高分辨率DAC 芯片的研发具有十分重要的意义。 目前,波形测量和分析协会已提出了DAC 测试的技术标准IEEE Std.1057,里面的术语和测试方法为DAC 测试提供了更多的参考。传统的标准测试只适于信号发生器、示波器等测试仪器,但是测试精度不高;大规模芯片测试时则使用自动测试设备(ATE),但是成本很高;最近提出的DAC 的测试方法,比如结合V777 数字测试系统可以进行DAC 测试,应用模拟滤波器进行音频DAC 测试