嵌入式系统/ARM技术中的Cortex—M3的SRAM单元故障软件的自检测研究

目前,对于存储单元SRAM的研究都是基于硬件电路来完成,而且这些方法都是运用在生产过程中,但是生产过程并不能完全杜绝SRAM的硬件故障。在其使用过程中,如果SRAM硬件出错,将导致程序出错而且很难被发现。因此在运用的阶段,为防止存储单元损坏而导致系统出错,通过软件的方式对SRAM进行检测是必要的。 1 SRAM运行状态分析 SRAM是存储非CONSTANT变量(如RW),它具有掉电即失的特点。由Cortex—M3的启动步骤可知,系统上电后,首先执行复位的5个步骤: 1NVIC复位,控制内核; 2NVIC从复位中释放内核; 3内核配置堆栈; 4内核设置PC和L