1. 首页
  2. 课程学习
  3. C++/C
  4. 采用新型IGBT优化软开关应用中的损耗

采用新型IGBT优化软开关应用中的损耗

上传者: 2020-10-28 05:48:17上传 PDF文件 248.78KB 热度 15次
IGBT技术进步主要体现在两个方面:通过采用和改进沟槽栅来优化垂直方向载流子浓度,以及利用“场终止”概念(也有称为“软穿通”或“轻穿通”)降低晶圆n衬底的厚度。
下载地址
用户评论