基于ADμC7020及Si5040误码测试系统设计

长期平均误码率,简称误码率(BitErrorRate,BER),是光通信网络及设备的重要指标之一。目前光通信网络及设备正朝着小型化、高频率、高速率、大容量的方向发展,对作为测量仪器的误码测试仪速率及功能的要求也越来越高。虽然国内外仪器仪表厂,如安捷伦(Agilent)、泰克(Tektronix)等推出了各种高速误码测试仪,但是大多价格昂贵,并且系统复杂。所以,对于国内通信行业,开发一种价廉、方便、速率可达10Gb/s的高速误码测试系统,具有实用价值。1系统概述本误码测试系统由两部分组成:误码测试部分和上位机人机界面部分。其中误码测试部分由高速误码仪、光衰减器、光功率计和光源等组成。高速误码仪以