Latch up测试中负电流的影响和防护 上传者：大泽say 2020-10-16 20:34:21上传 PDF文件 222.42KB 热度 14次 阐述了在Latch-up测试中负电流的产生机理,以及芯片内部寄生双极晶体管对负电流的连锁反应机理,并以模拟电压缓冲器和线性稳压器为例分析了负电流对芯片可能造成的影响,最后提出了一系列在芯片内部可以采取的防护措施。 下载地址 用户评论 更多下载
