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提高遥测信号处理器测试性方法

上传者: 2020-09-25 12:24:28上传 PDF文件 68.78KB 热度 9次
随着集成电路设计方法与工艺技术的不断进步,集成电路的可测性已经成为提高产品可靠性和成品率的重要因素。文中针对遥测产品中信号处理器的设计原理,通过增加BIT以提高信号处理器的测试覆盖率。
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