提高遥测信号处理器测试性方法 上传者：qq26927 2020-09-25 12:24:28上传 PDF文件 68.78KB 热度 28次 随着集成电路设计方法与工艺技术的不断进步,集成电路的可测性已经成为提高产品可靠性和成品率的重要因素。文中针对遥测产品中信号处理器的设计原理,通过增加BIT以提高信号处理器的测试覆盖率。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
