CPLD器件测试系统 上传者：sushuaiqiang_82612 2020-09-11 16:13:57上传 PDF文件 166.29KB 热度 19次 以Lattice公司的ispLSI1032E为被测对象,设计出一套测试装置,对该芯片的性能指标和可能出现的故障进行测试。本装置只需配置三次电路和施加相应的测试向量就能对芯片进行全面的测试,提高了测试效率,实用价值很高。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论 sushuaiqiang_82612 资源：436 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
