生产制造中的实用的低功耗测试方法 上传者：sb67491 2020-08-30 03:37:00上传 PDF文件 90KB 热度 8次 随着器件物理尺寸的不断缩小和电压门限的不断降低,越来越多的人认识到测试过程中过大的功耗会影响数字IC的可靠性,并导致电源引起的故障、过早失效,以及最终测试时发生错误问题。这些现象的发生要求制造测试采用特殊的电源管理和低功率设计技术。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论 sb67491 资源：427 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
