基于BIST的FPGA逻辑单元测试方法 上传者：pangiser 2020-08-30 02:47:16上传 PDF文件 182KB 热度 21次 给出了一种基于内建自测(BIST)的测试现场可编程门阵列(FPGA)逻辑单元的方法,讨论了测试的配置结构、故障覆盖率和测试中出现的问题及解决办法。实验表明,该测试方法具有所需测试向量少、故障覆盖率高、简便适用等优点。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论 pangiser 资源：430 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
