基于BIST的FPGA逻辑单元测试方法 上传者：pangiser 2020-08-30 02:47:16上传 PDF文件 182KB 热度 43次 给出了一种基于内建自测(BIST)的测试现场可编程门阵列(FPGA)逻辑单元的方法,讨论了测试的配置结构、故障覆盖率和测试中出现的问题及解决办法。实验表明,该测试方法具有所需测试向量少、故障覆盖率高、简便适用等优点。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
