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基于JTAG的星型扫描接口的设计及其仿真

上传者: 2020-08-19 14:00:17上传 PDF文件 259.38KB 热度 18次
边界扫描测试技术飞速发展,测试与调试功能不断增强,硬件IP模块向集成多个内核方向发展,以往芯片中传统的测试访问端口(TAP)中嵌入单一的测试访问端口控制器(TAPC)逐渐被系统芯片中嵌入多个TAPC所取代。
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