用XRD 线形分析法表征TiC 粉体中的镶嵌尺寸 上传者：qq_77875 2020-08-05 21:40:39上传 PDF文件 341.26KB 热度 21次 采用XRD 线形分析(双Voigt 函数) 法对球磨行星96 h 的TiC 粉和纳米TiC 粉中的镶嵌尺寸和晶格畸变进行了对比分析和表征,并采用TEM 法印证。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
