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论文研究 用对角线算法检测MLC NAND Flash的干扰故障 .pdf

上传者: 2020-07-27 12:20:41上传 .PDF文件 246KB 热度 14次
用对角线算法检测MLC NAND Flash的干扰故障,郑基锋,,随着半导体工艺的迅速推进,尤其在存储芯片领域,工艺节点的逐年缩小,存储芯片的故障变得更加复杂。存储单元间距逐步缩小,导致
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