论文研究 基于遗传算法测试用例集极小化研究.pdf

随着深亚微米技术，串扰噪声问题越来越严重。利用MAF模型的基本思想，探讨了一种串扰时延最大化算法，并且利用被修改的FAN算法，生成测试矢量。对于一条敏化通路，利用被修改的FAN算法适当地激活相应的攻击线和受害线，使电路在最恶劣情况下引起最大通路时延，从而实现更有效的时延测试。在标准电路ISCAS’85上进行实验验证，结果表明：该算法对于多攻击线的串扰时延故障的测试矢量产生是有效的。