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DBD诱导CVG ICP OES法选择性测定痕量Se(IV)

上传者: 2020-07-17 13:09:49上传 PDF文件 1.13MB 热度 15次
DBD诱导CVG-ICP-OES法选择性测定痕量Se(IV),杨武琳,朱晓帆,本文将介质阻挡放电诱导化学蒸气发生与电感耦合等离子体原子发射光谱分析法联用,用于痕量Se(IV)的选择性测定。考察了介质阻挡放电
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