在s = 8 TeV的质子 质子碰撞中测量微分和双微分Drell Yan截面

给出了在电子和channels子通道中的差分和双差分Drell-Yan截面的测量结果。 它们基于在LHC上用CMS检测器记录的s = 8TeV的质子-质子碰撞数据，对应的综合光度为19.7 fb-1。 从双电子和双介子通道的组合获得的Z峰区域（60–120 GeV）中的测量包含端截面为1138±8（exp）±25（theo）±30（lumi）\，pb，其中 统计不确定性可以忽略不计。 在差分物质质量范围15–2000 GeV中测量微分截面dσ/ dm并校正至整个相空间。 双微分截面d2σ/ dmd | y | 在20至1500 GeV的质量范围内以及从0到2.4的绝对双链快速度下也测得δ值。