JESD47H 01_Stress Test Driven
JESD47H.01(Revision of JESD47H, February 2011) Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits
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用户评论
很有用的标准参考资料，找了很久终于找到了
终于找到这个文檔了
全是英文，看不懂。