In0.5Ga0.5As/GaAs(001) 薄膜临界厚度的测量 上传者：zhangbing18615 2020-07-16 13:39:04上传 PDF文件 516.84KB 热度 21次 In0.5Ga0.5As/GaAs(001) 薄膜临界厚度的测量，刘珂，周清， 本文使用分子束外延(molecular beam epitaxy, MBE)设备在GaAs(001)衬底上生长了In0.5Ga0.5As量子点，制备过程中使用反射式高能电子衍射仪(high-energy 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论 zhangbing18615 资源：438 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
