在VEPP2000对撞机上使用SND检测器测量e + e→ηπ+π横截面

e + e-→ηπ+π-横截面是在球形中性检测器（SND）检测器上以η衰减模式η→3π0进行测量的。 该分析基于在质量中心能量范围s = 1.075–2.000 GeV处在VEPP-2000 e + e-对撞机上收集的具有32.7 pb-1的综合亮度的数据样本。 发现在η→3π0衰减模式下获得的数据与先前在η→γγ模式下的SND测量结果一致。 因此，将两种模式下的测量结果结合在一起。