掠入射X射线荧光与X射线反射综合表征多层膜结构 上传者：77359 2020-05-17 14:29:17上传 PDF文件 678KB 热度 46次 掠入射X射线荧光与X射线反射综合表征多层膜结构，杨晓月，李文斌，掠入射x射线荧光与x射线反射率是一种综合分析薄膜材料结构的表征方法。应用此技术不仅可以进行元素分析，而且可以给出膜层的厚度� 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
