论文研究FPGA测试技术及ATE实现.pdf

随着FPGA的规模和复杂性的增加，测试显得尤为重要。介绍了SRAM型FPGA的结构概况及FPGA的测试方法，以Xilinx公司的spartan3系列芯片为例，利用检测可编程逻辑资源的多逻辑单元（CLB）混合故障的测试方法，阐述了如何在自动测试系统（ATE）上实现FPGA的在线配置以及功能和参数测试，为FPGA面向应用的测试提供了一种可行的方法。